一、集成电路EMC技术概论 
                        1.1、何谓集成电路EMC设计 
                        1.2、集成电路EMC标准与规范 
                        1.3、EMC的效费比-EMC介入时间与成本的关系 
                        1.4、电磁兼容设计与抗电磁骚扰的区别 
                        1.5、集成电路的EMC设计管理 
                        二、IC版图设计中的EMC/EMI问题 
                          2.1、版图设计 
                          2.2、版图举例: ?I噪声电流/瞬态负载电流/?I噪声电压 
                          2,3、版图举例: 差模骚扰/共模骚扰 
                          2.4、版图举例: 传导骚扰耦合 
                          2.5、版图举例: 共阻抗骚扰耦合 
                          2.6、版图举例: 共电源阻抗耦合 
                          2.7、版图举例: 感应骚扰耦合/串扰 
                          2.8、版图举例: 辐射骚扰耦合/非闭合载流电路/闭合载流电路 
                          2.9、版图举例: 敏感度特性/耦合途径 
                        三、IC版图EMC设计 
                          3.1、减小版图互连线路走线的阻抗 
                          3.2、版图布局和布线的准则: 
                          1)、低频布线取最短距离(最小电阻); 
                          2)、高频布线取最小环路面积(最小阻抗); 
                          3)、布局与不兼容分割 
                          3.3、版图中电源网格/地线网格,电源总线/信号总线和接地设计准则 
                          3.4、层次化结构和多金属层设计与应用/金属距离和密度 
                          1)、层叠设计,层数和大小的选择 
                          2)、2W原则 
                          3)、传输延迟和特性阻抗及阻抗匹配 
                          4)、信号完整性的含义 
                          5)、信号完整性问题 
                          6)、IC设计中的串扰 
                          3.5, ESD电路分析 
                          1)、新ESD技术减小IC的I/O尺寸 
                          2)、深亚微米CMOS芯片ESD保护结构设计 
                          3)、电路实例 
                        四、IC地线设计 
                          4.1、接地系统 
                          4.2、IC中的接地 
                        五、IC中的屏蔽设计 
                          5.1、屏蔽材料与厚度的选择和屏蔽效能的计算 
                          5.2、IC中的屏蔽 
                        六、滤波设计 
                          6.1、滤波器的种类 
                          6.2、如何选择滤波器的网络结构 
                          6.3、如何计算滤波器的插入损耗与频率特性 
                        七、成功IC版图举例 
                          7.1、电源电压检测电路版图设计 
                          7.2、利用CADENCE IC Craftsman自动布局布线 
                          7.3、SuperV芯片的版图优化 
                          7.4、Ledit版图设计软件 
                          7.5、门级ASIC的分层物理设计 
                        八、集成电路设计软件 
                          8.1、Cadence RF设计Kits(锦囊)  
                          8.2、CADENCE:SiP IC设计主流化 
                          8.4、用于 RFIC设计的Calibre验证 
                          8.5、LCoS(Liquid-Crystal-On-Silicon) 显示芯片 
                          8.6、CMOS 器件版图 DUMMY 图形 
                        九、掌握IC封装特性抑制EMI 
                          9.1、DIP 
                          9.2、芯片载体封装  
                          9.3、方型扁平封装(Quad Flat Package)  
                          9.4、BGA封装  
                          9.5、CSP封装 
                          裸芯片组装  
                          9.7、倒装芯片(Flip Chip)(简称:FC)  
                          9.8、多芯片模块 
                          9.9、系统芯片(SOC) 
                        十、集成电路EMC标准与试验方法 
                          IEC62132标准试验方法: 
                          IEC62132标准:集成电路电磁抗扰度 
                          通用条件和定义;  
                          辐射抗扰度测量方法--横电磁波室法(TEM Cell);  
                          传导抗扰度测量方法--电流注入法(BCI);  
                          传导抗扰度测量方法--直接激励注入法(DPI); 
                          传导抗扰度测量方法--WFC(Workbench Faraday Cage)法。 
                          10.2、IEC61967标准试验方法: 
                          IEC61967标准:集成电路电磁发射 
                          通用条件和定义; 
                          辐射发射测量方法--横电磁波室法(TEM Cell) 
                          辐射发射测量方法--表面扫描法; 
                          传导发射测量方法--1Ω/150Ω直接耦合法; 
                          传导发射测量方法--WFC (Workbench Faraday Cage)方法; 
                          传导发射测量方法--探针法                         
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